西門子S120伺服電機驅動器亮紅燈報警

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西門子S120伺服電機驅動器亮紅燈報警

測試時被測 的某輸出端不會變化，總是(shi)高

電(dian)平或低電(dian)子，自然該芯片通不過(guo)測試，除了(le)該芯

片本身已損壞之外，常為(wei)該輸出端(duan)外部負載過重或

對地、對源短路所致，如(ru)該輸出端所驅(qu)動的下級

輸(shu)人端性能變(bian)壞或短(duan)(duan)路，輸(shu)出印(yin)刷線漏電或短(duan)(duan)

路，都會造(zao)成這(zhe)種情(qing)況(kuang)。有時由于該輸出端接有電

容負載，使輸出電平過一段時間(jian)才能變高，測試工

作頻(pin)率較高的測(ce)試僅誤(wu)測(ce)為低電(dian)平，而使測(ce)試通(tong)不

過(guo)。例如一(yi)塊日本 數控系統

板(ban)，采(cai)用超能 型測試儀進行(xing)檢查，發現其(qi)

中有(you)一塊(kuai) 測(ce)試(shi)通不過(guo)。從診斷測(ce)試(shi)提

供(gong)的波形(xing)圖看(kan)出無論輸入(ru)腳(jiao)高(gao)低電平變化，輸出

腳總是低電平，有時(shi)為三態(tai)。分析該腳的輸出(chu)電

路(lu)，發現該(gai)腳并聯了一只電容(rong)器，將該(gai)電容(rong)器斷(duan)開

再(zai)測，測試通過。用萬用表測量該電容，有漏(lou)電現

象，調換新電容之后(hou)，該片測試(shi)通(tong)過(guo)。板(ban)上另(ling)一片

，測(ce)試也通不過，發現輸出腳 總(zong)是(shi)高電(dian)

子。測(ce)(ce)其連線狀態，發現該腳已和 相連，拆下(xia)該芯片離線測(ce)(ce)試卻(que)正常。用萬用表測(ce)(ce)量該腳多層印

制版金屬化焊腳(jiao)孔，發現已和電源(yuan)層短路。將該腳(jiao)

孔割去不用，另接線輸(shu)出。上述(shu)兩處故障(zhang)排除后，

該板恢復正常。

（）被測 的輸(shu)入(ru)電平(ping)出錯 由于器件(jian)的故

障、輸入回(hui)路(lu)電路(lu)板短(duan)路(lu)、輸入腳并接較大電容

器，或(huo)(huo)電路設計的某種(zhong)需要，將(jiang)輸入腳拉到 或(huo)(huo)

等原因，有可能使測試失敗。如同超能

在(zai)線測試儀對使能腳(jiao)（腳(jiao)）常接(jie)高電平

的 雙(shuang)向總(zong)線傳輸器芯片進行 測(ce)試時，

由于(yu)無法驅動 腳到(dao)低電(dian)平(ping)， 腳不能(neng)處(chu)于(yu)輸

入狀態，故給出“輸入電平出錯"，器件(jian)不能通(tong)過

測試。

對集電(dian)極(ji)(ji)開路(lu)輸出(chu)芯片的測試時，由于集電(dian)極(ji)(ji)

開路的輸出(chu)需要上拉電阻或連接在(zai) 與輸出(chu)之間

的負載才能正常工作(zuo)，否則集電極開路(lu)輸出腳總是

低(di)電平，而(er)無法通過測試。在這種情況下，可用

電阻連接(jie)在 與開路輸(shu)出腳(jiao)之(zhi)間，再進行測試(shi)，作進一步確(que)認。有些(xie)在線測試(shi)儀（如 ）

的 測試軟件可以任意設置(zhi)連接一(yi)個內部的

電阻(zu)(zu)。上拉電阻(zu)(zu)到芯片(pian)的(de)任何(he)管腳(jiao)，這就無需

外接電阻。如用(yong) 型(xing)在(zai)線測(ce)試儀對一(yi)塊接口

板上的一(yi)片 芯片進行 測試時，從顯示的

時序圖(tu)中發現該(gai)芯片腳總是(shi)低電平，這(zhe)正是(shi)屬于

集電極開路輸出而無上拉電阻的情況。儀器提示(shi)

腳未作測試，因此，需要(yao)和(he) 連接 電(dian)阻再(zai)

測(ce)，測(ce)試通不過。將該(gai)片焊下來離線(xian)測(ce)試時，發現

腳已經擊穿。

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